Araştırma: İlk kez tek bir atom, X-ışınıyla gözlemlendi

Artı Gerçek - Bilim insanları birer demir ve terbiyum atomu seçerek, Senkrotron X-ışını Taramalı Tünelleme Mikroskobu (SX-STM) olarak bilinen öncü bir teknik kullanarak atomları tek tek tanımladı. Araştırma hakemli bilim dergisi Nature'da yayımlandı.

X ışınları ilk olarak 1895 yılında Alman fizikçi Wilhelm Röntgen tarafından üretildi ve tespit edildi. O zamandan beri tıbbi muayeneler, havaalanı güvenlik kontrolleri, Mars'taki kayaların bileşiminin analizi ve daha fazlası gibi çok çeşitli uygulamalarda kullanıldılar. X-ışınları numunelerde bulunan malzemelerin türünü belirlemek için de kullanılabilirler. Şimdiye kadar, bir X-ışını analizi için minimum malzeme miktarının en az yaklaşık 10.000 atom içermesi gerekiyordu. Bu yüzden bilim insanları tek bir atomu analiz etmenin yollarını arıyorlardı ve şimdi bunu başardılar.

'BU BULUŞ DÜNYAYI DEĞİŞTİRECEK'

ABD'deki Argonne Ulusal Laboratuvarı ile Ohio ve Illinois-Chicago üniversitelerinden bir grup bilim insanın katıldığı araştırmaya liderlik eden baş araştırmacı Prof. Swa Wai Hla, yürütülen çalışmanın, çevresel, tıbbi ve kuantum araştırmalarında yeni keşiflerin önünü açacağına işaret etti. Söz konusu çalışmanın, "insanlığın kaderini değiştirecek" önemli bir potansiyele sahip olduğunu kaydeden Swa, "Bu buluş dünyayı değiştirecek" ifadesini kullandı.

Swa, atomların, Taramalı Sondalı Mikroskoplarla (SPM) gözlemlenebildiğini ancak bu atomların, X-ışını olmadan kimyasal yapılarının tespit edilemediğini kaydetti. SX-STM, X-ışını ile uyarılmış elektronları toplamak için numuneye aşırı yakın konumlandırılmış keskin bir metal uçtan oluşuyor. Tek bir atomun X-ışınıyla gözlemlendiği çalışmanın amacının, nano ve kuantum bilimlerine odaklanırken tek bir nadir toprak atomu üzerindeki çevresel etkinin araştırılması olduğu vurgulandı. (DIŞ HABERLER)

'Atom enerjisi' çağı sona eriyor: Almanya son üç nükleer reaktörünün fişini yarın çekecek